Розрахунок показників надійності інтегральних схем, Детальна інформація

МІНИСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ

Запорізький національний технічний університет

Кафедра мікроелектроніки і

напівпровідникових приладів

№ з. кн. Р231110

КУРСОВА РОБОТА

на тему:

“Основні механізми відмов. Розрахунок показників надійності інтегральних схем.”

Розробив

ст. гр. РПЗ-311 Вакула О.О.

Керівник Томашевський О.В.

2004

РЕФЕРАТ

КР: с, 3 рисунки, 6 джерел.

Об’єкт дослідження – надійність інтегральних схем.

Мета роботи – розрахувати основні показники надійності ІС по заданим вихідним даним.

Методи дослідження – розрахунок надійності інтегральних схем по заданим параметрам.

ВІДМОВА,ЕЛЕКТРОДИФУЗІЯ, ЕЛЕКТРОМІГРАЦІЯ, МЕТАЛІЗАЦІЯ.

ЗМІСТ

Завдання на КР…………………………………………………………….……...

Реферат……………………………………………………………...……….……

Вступ………………………………………………………………………………

1 Основні механізми відмов…………………………………………………..…

1.1 Відмови ІС при руйнуванні металізації внаслідок електроміграції…...

1.2 Відмови внаслідок зарядової нестабільності в шарі окислу

та на межі окисла з напівпровідником……………………………………….…

1.3 Відмови внаслідок електричного пробою окисла та p-n переходу…...

2 Розрахунок показників надійності……..……………………………….……

2.1 Вихідні дані……………………………………………….…………………

2.2 Розрахунки……………………………………………………………..……